BE1-WP1一米平面光栅摄谱仪

87.16.31.09-1530

 仪器用途：
  BE1-WP1型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的仪器。广泛地应用于地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析。

 平面反射光栅技术规格

  仪器特点：

• 光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，慧差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀

• 仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀

• 仪器缝前的哈特曼光栏盘上设置哈特曼光栏主三阶，九阶减光板

• 使用控制箱控制摄谱过程

• 仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要

• 仪器配置工作台，安装和操作方便

 仪器技术规格：

• 工作波段：200nm-800nm

• 仪器焦距：f=1050mm

• 谱板尺寸：240×90mm

• 相对孔径：D/f=1:25

• 狭缝指标：变化范围 0.003-0.3mm
           手轮格值 0.001mm
           缝宽重复性 0.001mm

• 外形尺寸（包括导轨）： 1350×1230×420(mm)

• 主机重量：80kg

 仪器成套性： 

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