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 SF2-760CRT型双光束紫外可见分光光度计

  内部编号:87.11.19.29-0297

 

共同特点:

  • 采用全息闪耀光栅,双光束C-T式光路结构,高分辨率,低杂散光,测光精度高。

  • 微机控制、绘图打印、自动记录。

  • 自动转换光源。

  • 可容易地获得1-4阶微分光谱。

  • 具有自动扫描,时间扫描,波长程序,2λ和3λ测定,动力学测定,光谱存储……等功能。

SF2-760CRT特点:(除共同特点外)

  • 能与彩色CRT会话,用菜单形式来选择。

  • 光谱扫描和定量测定可同时进行。

  • 住处存贮容量大,保存方便。

  • 有功能极强的光谱处理能力。

  • 可进行1-3次曲线凝合,及异常点剔除。

技术指标:

波长范围 190-800nm
透射比准确度 于±0.3%(用NBS930滤光片测定)
波长准确度 ±3nm(内装自动波长校正装置)
分辨率 优于0.15nm
波长重复性 ±0.2nm
杂散光 优于0.08%(220nm处NaI溶液)
波长扫描速度 FAST(高速)、M(中速)、SLOW(低速)以及ACC(累加),内装曲线不失真的自动消除装置。
光谱带宽 0.08~5nm连续可变,每隔0.1nm用数字设定。

 

 
 
   
   
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