B40-LS系列全自动激光粒度分析仪

87.16.31.25-673

   B40-LS系列是采用激光衍射光散射法和本公司的双镜头专利和偏振光强度差专利技术而生产的最新型激光粒度分析仪。

• 使用弗兰侯夫衍射和梅氏理论进行结果计算及分析

• 双镜头专利技术保证所有样品均能实现一次测量，无须多次分段测试而造成误差

• 偏振光强度差专利技术针对0.4μm以下的颗粒，正确测量因受普通衍射方法限制而未能测量之讯息

• 由132块检测器和116个解析通道组成，提供高解析度的分析结果

• 全自动电脑控制过程，并可通过液体、危险液体、乾粉、通用及微量五种样品台，分析各种不同状态的样品，需时仅几十秒

仪器型号：B40-LS230 型：0.04μm-2,000μm
          B40-LS200 型：0.4μm-2,000μm
          B40-LS100Q 型：0.4μm-1,000μm
应用技术：弗兰侯夫衍第三射和梅氏理论
          双镜头专利技术
          偏振光强度差专利技术
结果报告：颗粒体积、数目、表面积百分分布或累积分布，平均值、峰值、
         中值（数据及图形）

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