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87.16.31.25-674 |
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B40-N4Plus粒度分析仪符合国际认可ISO标准之光子相关光谱法（PCS），可分析3nm -3,000nm的超细颗粒。仪器从六个角度对样品进行检测，并配有八个相关仪，从而获得准确结果。多角度测量更对不同光学特性的颗粒进行精确的分析。仪器操作完全电脑化，可提供单峰和多峰分析图，分析迅速，是纳米级颗粒分析的首选仪器。 测量范围：3nm-3,000nm |
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地址：北京市海淀区上地四街一号中西集团公司（100085）
E-mail: bzhang@midwest.com.cn
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B40-N4 Plus超细颗粒粒度分析仪