O5-弯曲晶片试验系统(BENDER ELEMENT)    货号:501wxr362ld0531

用途:一般来说在小应变的情况下测量土的刚度是比较困难的,这是因为受到荷载与位移传感器的分辨率和精度所限。该方法利用弯曲元件测量小应变中土的刚度,三种类型可以选择:S波、P波以及S波+P波;每套设备都包括一个发射装置和接收装置,分别内置在底座和试样帽上;Windows版GDS-BES软件;发射源可以采用正弦波、方波或用户自定义波形。

技术规格:

发射装置

分辨率:12bits

采样速率:200kHz

接收装置

分辨率:16bits

采样速率:200kHz

增益:×10,×100,×300,×500