K4-Pocket LEPTOSKOP 袖珍型膜层测厚仪

订货号:87.21.13.09-1062

 

袖珍型膜层测厚仪的特点:

  • 特别适合于进行现场测厚

  • 无需任何校验即可立即进行测厚

  • 对特殊的检测和复杂的几何形状,可进行直接校验

  • 可进行单手操作

  • 小巧轻便,可装于任何衬衣口袋中

  • 能自动识别基体材料,并转换至正确的测量方式
    (Pocket-LEPTOSKOP 20X5型具有此功能)

  • 所有的动作均可以光、声信号表示

  • 用于数据传输的串接接口
    (Pocket-LEPTOSKOP 203X型具有此功能)

  • 可设定界限值,并可对此进行监控
    (Pocket-LEPTOSKOP 203X型具有此功能)

  • 统计功能 
    (Pocket-LEPTOSKOP 203X型具有此功能)

  • 省电工作方式:工作间隔大于一分钟后,仪器将进行省电状态

  • 具有使用方便的计算机软件,用于数据接收,编写检测报告和统计评定

  • 无需打开机壳,即可方便地更换电池


技术参数:

测量原理:铁基:磁感应法(DIN 50981)   非铁基:涡流法(DIN 50984)
测量范围:铁基:0-1250μm              非铁基:0-1250μm
测量精度:测量值的+2%+2μm
分辨率:0.1μm
测量率:每秒最多一次测量
接口(只有Pocket-LEPTOSKOP 203X型具有此功能):RS232C   传输率:4800巴特

 

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