L4-LEPTOSKOP 2050 微机型膜层测厚仪

订货号：87.21.13.09-1063

 

微机型膜层测厚仪的特点：

• 利用微机进行膜层厚度测定
  本仪器是一种计算机控制的膜层测厚仪，特别适合于在质保实验室中使用

• 无需任何校验即可立即进行测厚

• 可自动识别所使用的检测探头

• 在对特殊的检测目的和几何形状进行检测时，可采用多种校验方式；零点校验、单点校验、双点校验或在未知膜层上进行校验

• 操作菜单化，并可用鼠标进行控制，极其方便简单

• 测量、评定及文件整理均可在软件中进行

• 所有的动作均可以光、声信号表示

• 可在屏幕上显示输入的界限值和在线的监探情况

• 可在屏幕上随时显示检测结果的统计情况

• 可任意选择显示测量组的数目，为此可实现比较法测量

• 可同时采用任意多个探头进行测量（但需在计算机上配备相应数目的接口）

• 每个探头最多可选择99个测量组，每个测量组可设定各自的界限值

• 可进行图形化评定和文件整理